涂層測厚儀及超聲波測厚儀的知識簡述：

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準

基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

2、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

3、邊緣效應(yīng)

儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

4、 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

5、試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數(shù)據(jù)。

6、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

7、附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須**附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

8、 測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

9、測頭的取向

1.測厚儀原理--簡介

測厚儀，英文名稱為thickness gauge ，是一類用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度。測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度**測量。

接下來小編為大家介紹幾種常見測厚儀的原理，希望對親們理解測厚儀有一定的幫助!

2.測厚儀原理--激光測厚儀

激光測厚儀：此類測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。

3.測厚儀原理--X射線測厚儀

X射線測厚儀：此類測厚儀利用的是當X射線穿透被測材料時，X射線強度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。

4.測厚儀原理--超聲波測厚儀

超聲波測厚儀：這種測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射的原理來對物體厚度進行測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖會發(fā)生反射而返回探頭，通過**測量超聲波在材料中傳播的時間，來計算被測材料的厚度。

5.測厚儀原理--涂層測厚儀

涂層測厚儀：主要采用的是電磁感應(yīng)法來測量涂層的厚度。涂層測厚儀會在部件表面的探頭處產(chǎn)生一個閉合的磁回路，伴隨著探頭與鐵磁性材料之間距離的變化，該磁回路將會發(fā)生不同程度的改變，因此會引起磁阻及探頭線圈電感的變化。